说明:收录25万 73个行业的国家标准 支持批量下载
UDC 621.315.612 : 621.382/.387 : 620. 1 GB 中华人民共和国国家标准 GB 5594.2—85 电子元器件结构陶瓷材料 性能测试方法 杨氏弹性模量 泊松比测试方法 Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components Test method for Youngs elastic modulus and Poisson ratio 1985-11-27发布 1986-12-01实施 国 家标 准 局 批准 中华人民共和国国家标准 电子元器件结构陶瓷材料 UDC 621.315.612 : 621.382 性能测试方法 /.387: 620.1 GB 5594.2—85 杨氏弹性模量泊松比测试方法 Test methods for properties of structure ceramic used in electronic componeats Test method for Youngs elastic modulus and Poisson ratio 本标准适用了空温下电了元器件结构陶瓷材料的杨低弹性模最,切变模量和泊松比的测量。 1测试原理 当个连续弹性体,被外力激发(敲)丽产生嵌动时,可能出现许多个固有频率(或主搬型) 值,而试样的固有频率完全取决于其本身固存的物理性质,与任何外界因素无关。从能量观点来看, 由于各上握型之间不会产小能量的传递,因比可以认,各主振型之间是相独立的。其中以基频 动具有最大能量。根据能量与振幅的平方成正比的关系,在阻尼摄动中,只有某频振动的摄帽衰减附 问最长。利用这特点,在敲击法弹性模量测试中,将仪器设计了自动延时电路,待各高次主振型的 搬惰衰减到很小或零时,便可方便准确地对其基频摄动进行计量分析。 根据外力激发方式、支撑方式的不同,试样将产生横振、纵振或扭振。横振较纵振容易被诱发产 生共振,且共振现象眠显。因此,在敲迁法弹性模量测试中,常通过测品横振频来求出杨氏弹性模 量(E),通过扭振基频求出切交模量(G)。从而计算出泊松比(u)。 2测试方法 敲击式动态杨天婵性模量测试方法。 2.1 对试样的要求 试样应符合GB5593--85《电了元器件结构瓷材料的规定。测量精度要求:长度为土0.05mm, 宽度和厚度为=0.02mm、重量为±0.05g。 2.2支撑方式 在测量横基频或扭振基频时,支撑点应选在本频振动的节点上,为测试方便起见,均可按两端 自由的方式选择支撑点。即在测横振基频时.支撑点宜选在距试棒两端0.224L处,而在测扭振基频时, 宜在1/21.处。对支撑材料,-般应选择行-定强度且有良好隔搬效果的有机材料如硬橡胶、硬塑 料。问同时支班应有足够的质量,其共摄频率须远偏离一试样的基频,以免支座与试样一起搬动。为了减少 试样与支座的摩擦阻尼,支座写试样的接触面应尽可能小, 2.3敲击点的选择 敲击点宜选择在基频振动的最大振幅处,这样不仅可激发基频共振,而且能抑制各偶次主振型的 产生。有利丁提高仪器的重复性精度。对于两端所出的杆件,在测横振基频时,敲击点可选择在试样 的两端或1/2L处;t在测扭振基频时,为防止横振基频的扰,宜存0.224L处敲击边楞,见图1、图2。 国家标准局1985-11-27发布 198612-01实施 1 GB 5594.2—85 3测试步骤 3.1按图1放置试样,仪器所附专用锤在敲击点敲击试样在仪器读出R值。重复10次,取卡哟個: 3.2按图2放置试样,重复3.1的步骤。 3.3按2.1要求测量试样儿何尺寸利重量, 4 计算公式 4.1杨氏弹性模量: (kgf /mm)(当 31/h.24时) m/! E - 3.97 × 10 6. -(kgf/mm²)(当l/h24附) bh3R2- 式: m- 试样重量,: 试样长度,mm; b --试样宽度,mm; h一-试样厚度,mm; R.…仪器读数; M——形状网数(查表) 4.2切变模量 m! G = 1.63156 ×196 h/b+ b/h - 2.52( 武中:T 修主系数; m- 试样重最,; 1 试栏长度,mm; b 试样宽度,mm; h 试栏厚度,mm; R- 仪器读数 0.2241. ".224L 0.5L 图1横基频测试示意图 1--敲行点:2试样;3—支盛,4:传感器 2 GB 5594.2—85 0.224 L 0.224 L 0.5L 图2扭基频测试示意图 1一敲击点,2一试样;3一支座:4一传感器 4.3泊松比 μ= (E/2G)- 1 式中:E 杨氏弹性模量,kgf/mm²; G 切变模量,kgf/mm²。 附加说明: 本标准由中华人民共和国电子工业部提出。 本标准由天津大学起草。 本标准主要起草人陆文汉。 GB 5594.2—85 0.224 L 0.224 L 0.5L 图2扭基频测试示意图 1一敲击点,2一试样;3一支座:4一传感器 4.3泊松比 μ= (E/2G)- 1 式中:E 杨氏弹性模量,kgf/mm²; G 切变模量,kgf/mm²。 附加说明: 本标准由中华人民共和国电子工业部提出。 本标准由天津大学起草。 本标准主要起草人陆文汉。

pdf文档 GB-T 5594.2-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 杨氏弹性模量、泊松比测试方法

文档预览
中文文档 4 页 50 下载 1000 浏览 0 评论 0 收藏 3.0分
温馨提示:本文档共4页,可预览 3 页,如浏览全部内容或当前文档出现乱码,可开通会员下载原始文档
GB-T 5594.2-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法  杨氏弹性模量、泊松比测试方法 第 1 页 GB-T 5594.2-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法  杨氏弹性模量、泊松比测试方法 第 2 页 GB-T 5594.2-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法  杨氏弹性模量、泊松比测试方法 第 3 页
下载文档到电脑,方便使用
本文档由 思安 于 2023-02-20 11:58:53上传分享
友情链接
站内资源均来自网友分享或网络收集整理,若无意中侵犯到您的权利,敬请联系我们微信(点击查看客服),我们将及时删除相关资源。