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(19)国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 202210948048.X (22)申请日 2022.08.09 (71)申请人 佛山市南海利达印刷包 装有限公司 地址 528200 广东省佛山市南海区西樵科 技工业园富达路1号 (72)发明人 关启锐 孙莉  (74)专利代理 机构 广州圣理华知识产权代理有 限公司 4 4302 专利代理师 周嘉文 (51)Int.Cl. G01N 21/01(2006.01) G01N 21/95(2006.01) (54)发明名称 共挤膜异常晶点检测夹具及共挤膜晶点检 测方法 (57)摘要 本发明提供一种共挤膜异常晶点检测夹具, 包括第一模 具和第二模具; 第一模 具和第二模具 均具有合模平面、 位于上侧的切片平 面和位于下 侧的放置平面, 合模平面与切片平面、 放置平面 互相垂直, 合模平面设置有贯穿模 具的上表面和 下表面的凹槽; 第一模具和第二模具合模时, 两 个切片平 面共面, 第一模具和第二模 具合模使待 检测薄膜夹持在两者的合模平 面之间, 两个凹槽 相对形成观 察通道用于观察待检测区域; 本发明 还提供应用上述共挤膜异常晶点检测夹具的共 挤膜晶点检测方法。 本发明的共挤膜异常晶点检 测夹具便于生产人员进一步确认共挤膜内的晶 点位于哪一个材 料层内。 权利要求书2页 说明书8页 附图4页 CN 115290561 A 2022.11.04 CN 115290561 A 1.共挤膜 异常晶点检测夹具, 其特 征在于, 包括: 第一模具, 具有第一合模平面、 位于上侧的第 一切片平面和位于下侧的第 一放置平面, 所述第一合模平面与第一切片平面、 第一放置平面互相垂直, 所述第一合模平面设置有贯 穿第一模具的上表面和下表面的第一凹槽; 第二模具, 具有第二合模平面、 位于上侧的第 二切片平面和位于下侧的第 二放置平面, 所述第二合模平面与第二切片平面、 第二放置平面互相垂直, 所述第二合模平面设置有贯 穿第二模具的上表面和下表面的第二凹槽; 第一模具和第二模具合模时, 第一切片平面和第二切片平面共面, 第一模具和第二模 具合模使待检测薄膜夹持在两者的合模平面之 间, 第一凹槽和 第二凹槽相对形成观察通道 用于观察待检测区域。 2.根据权利要求1所述的共挤膜异常晶点检测夹具, 其特征在于, 第一切片平面、 第一 放置平面、 第二切片平面和第二 放置平面的水平度均为 ±0.02mm/m至0.05mm/m。 3.应用权利要求1至2任一项所述的共挤膜异常晶点检测夹具的共挤膜晶点检测方法, 包括: 取样: 截取共挤膜上一具有晶点的区域作为待检测薄膜; 固定待检测薄膜: 将待检测薄膜固定在第一模具和第二模具的合模平面之间, 待检测 薄膜的晶点区域 位于观察 通道和夹具外侧的交界处; 切割待检测薄膜: 使用薄膜切刀片对位于观察通道和夹具外侧的交界处 的晶点区域进 行切割, 使得晶点被剖开; 查找异常区域: 使用显微镜确定待检测薄膜厚度异常的位置, 以及确定厚度异常的材 料层; 定位晶点: 使用显微镜确定厚度异常的材 料层上是否存在非均相颗粒; 重复检测: 截取多个待检测薄膜进行分析。 4.根据权利要求3所述的共挤膜晶点检测方法, 其特 征在于, 取样的步骤 包括: 通过观察共挤膜的外观确定共挤膜上存在晶点的位置; 切割晶点 位于中部的Am m x Bmm区域作为待检测薄膜, 其中A、 B大于10且不大于20 0。 5.根据权利要求3所述的共挤膜晶点检测方法, 其特征在于, 固定待检测薄膜的步骤包 括: 将待检测薄膜置于第 一模具和第 二模具之间, 且待检测薄膜的晶点区域位于观察通道 和夹具外侧的交界处; 第一模具和第二模具合模; 使用固定件固定第 一模具和第 二模具的相对位置, 使第 一模具和第 二模具夹持待检测 薄膜。 6.根据权利要求5所述的共挤膜晶点检测方法, 其特征在于, 固定待检测薄膜的步骤还 包括: 固定第一模具和第 二模具后, 检测第 一模具和第 二模具的上表面是否位于同一水平面 上, 若否, 调整第一模具和第二模具在竖直方向上的相对位置; 若是, 则检测第一模具和第 二模具是否没有对位, 若否, 则判断有晶点位于第一模具和第二模具 的合模平面中使第一 模具和第二模具发生 错位, 调整待检测薄膜位置 。权 利 要 求 书 1/2 页 2 CN 115290561 A 27.根据权利要求3所述的共挤膜晶点检测方法, 其特征在于, 切割 待检测薄膜的步骤包 括: 薄膜切刀片刀锋紧贴夹具 上表面; 薄膜切刀片相对夹具的合模平面所在平面呈20 ‑50°夹角斜向移动切开待检测薄膜。 8.根据权利要求3所述的共挤膜晶点检测方法, 其特征在于, 查找异常区域过程中, 若 一位置的膜体厚度相对比相 邻位置的膜体厚度增厚40%以上, 则判断该位置为厚度异常的 位置; 对厚度异常的位置进行观察, 若材料层中一位置的厚度相对比相邻位置同一材料层 的厚度增厚40%以上, 则判断该 材料层为厚度异常的材 料层。 9.根据权利要求3所述的共挤膜晶点检测方法, 其特征在于, 所述显微镜为目镜可连接 电子显示设备的金相显微镜 。 10.根据权利要求3所述的共挤膜晶点检测方法, 其特征在于, 所述显微镜的物镜放大 倍数为5‑50倍。权 利 要 求 书 2/2 页 3 CN 115290561 A 3

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