(19)国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 202210812421.9 (22)申请日 2022.07.11 (71)申请人 首都师范大学 地址 100048 北京市海淀区西三环北路10 5 号首都师 范大学 (72)发明人 廖清　德健博　尹璠　殷海伟　 付红兵　 (74)专利代理 机构 北京冠榆知识产权代理事务 所(特殊普通 合伙) 11666 专利代理师 王道川 (51)Int.Cl. G01N 21/25(2006.01) G01N 21/01(2006.01) (54)发明名称 大面积发光件上电致发光角分辨光谱检测 系统及方法 (57)摘要 本发明公开大面积发光件上电致发光角分 辨光谱检测系统， 包括显微物镜、 动镜组件、 定镜 组件、 第二光谱仪、 光纤和连接在光纤出口的第 一光谱仪； 待测发光件的发射光依次经过显微物 镜和动镜组件、 并被动镜组件分成两路， 第一路 光线经过光纤后被第一光谱仪检测， 第二路光线 经过定镜组件后被第二光谱仪检测； 动镜组件和 显微物镜能够以过显微物镜前焦点且平行于显 微物镜入射口所在平面的直线A为轴心转动， 旋 转角度为180 °； 本发明还公开了 大面积发光件上 电致发光角分辨光谱检测方法， 该方法用源表驱 动待测发光件并采用两种测量手段进行角分辨 光谱的检测； 本发明合理设计的光路降低了设备 成本， 且可快速、 可定量的得知待测发光件器件 内的分子取向信息 。 权利要求书2页 说明书5页 附图3页 CN 115112577 A 2022.09.27 CN 115112577 A 1.大面积发光件上电致发光角分辨光谱检测系统， 其特征在于， 包括显微物镜(6)、 动 镜组件、 定镜组件、 第二光谱仪(15)、 光纤(14)和连接在光纤(14)出口的第一光谱仪(13)； 待测发光件(5)的发射光依次经过显微物镜(6)和动镜组件、 并被动镜组件分成两路， 第一 路光线经过光纤(14)后被第一光谱仪(13)检测， 第二路光线 经过定镜组件后被第二光谱仪 (15)检测； 所述动镜组件和显微物镜(6)能够以过显微物镜前焦点(1)且平行于显微物镜 (6)入射口所在平面的直线A为轴心转动， 旋转角度为180 °。 2.根据权利要求1所述的大面积 发光件上电致发光角分辨光谱检测系统， 其特征在于， 所述动镜组件包括用于将从显微物镜(6)出射光线汇聚成物像的消色差的第一透镜(7)和 设置在第一透镜(7)上方的用于将第一透镜(7)汇聚的光线反射入光纤(14)的半反镜(8)， 所述第一透镜(7)的前焦点与显微物镜(6)的后焦面对准， 所述第一透镜的后焦点(3)经半 反镜(8)反射后与光纤(14)的入口对准。 3.根据权利要求2所述的大面积 发光件上电致发光角分辨光谱检测系统， 其特征在于， 所述定镜组件包括设置在动镜组件正上方的消色差的第二透镜(10)和用于将第二透镜 (10)汇聚的光线反射入第二光谱仪(15)的反射镜(11)， 所述第二透镜(10)的前焦点对准透 过所述半反镜(8)的所述第一透镜的后焦点(3)， 所述第二透镜的后焦点(4)经反射镜(11) 反射后对准所述第二 光谱仪(15)的入光口。 4.根据权利要求3所述的大面积 发光件上电致发光角分辨光谱检测系统， 其特征在于， 所述光纤(14)的入口设置在动镜组件的侧面， 所述显微物镜(6)设置在所述动镜组件的下 侧面， 且所述显微物镜(6)的前焦点对准下 方的待测发光件(5)。 5.根据权利要求4所述的大面积 发光件上电致发光角分辨光谱检测系统， 其特征在于， 还包括第一镜架(9)和第二镜架(12)； 所述动镜组件安装在所述第一镜架(9)的内部， 所述定镜组件安装在所述第二镜架 (12)内部， 所述第一镜架(9)和第二镜架(12)上对应光线路径开设透光口， 所述第一镜架 (9)的下部一侧通过转动部件与第二镜架(12)连接， 使得第二镜架(12)可相对于第二镜架 (12)以处于水平的直线A为轴心转动。 6.根据权利要求5所述的大面积 发光件上电致发光角分辨光谱检测系统， 其特征在于， 所述转动部件包括设置在第二镜架(12)底部的转台， 所述第一镜架(9)的底部一侧通过镜 架转轴(16)固定安装在转台的台面上。 7.根据权利要求1所述的大面积 发光件上电致发光角分辨光谱检测系统， 其特征在于， 还包括驱动待测发光件(5)的源表。 8.大面积发光件上电致发光角分辨光谱检测方法， 其特征在于， 使用 如权利要求1至7 任一项所述的大面积发光件上电致发光角分辨 光谱检测系统， 包括以下步骤： 用源表驱动待测发光件(5)； 转动动镜组件至与待测发光件(5)水平， 之后动镜组件以直线A为轴心转动180 °， 在转 动过程中， 待测发光件(5)的光线被显微物镜(6)收集后通过动镜组件和光纤(14)导入第一 光谱仪(13)进行分析。 9.根据权利要求8所述的大面积 发光件上电致发光角分辨光谱检测方法， 其特征在于， 包括以下步骤： 用源表驱动待测发光件(5)； 锁定动镜组件的位置至第一透镜(7)与定镜组件的第二透权　利　要　求　书 1/2 页 2 CN 115112577 A 2镜(10)对齐， 将显微物镜(6)当作一种傅里叶变换器件， 将待测发光件(5)表面发出的不同 角度的发射光成像到显微物镜后焦面(2)的不同位置， 形成光的角度和焦平面上空间位置 的对应关系， 光线透过半反镜(8)， 通过第一透镜(7)和定镜组件将 显微物镜后焦面(2)成像 到第二透镜的后焦点(4)处， 且第二透镜的后焦点(4)与第二光谱仪(15)的入光口对齐， 通 过第二光谱仪(15)收集待测发光件(5)的光谱信息并进行分析。权　利　要　求　书 2/2 页 3 CN 115112577 A 3