(19)国家知识产权局
(12)发明 专利
(10)授权公告 号
(45)授权公告日
(21)申请 号 202211084641.0
(22)申请日 2022.09.06
(65)同一申请的已公布的文献号
申请公布号 CN 115143888 A
(43)申请公布日 2022.10.04
(73)专利权人 无锡沃尔德轴承 有限公司
地址 214401 江苏省无锡市江阴市青阳镇
振阳路10 0号
(72)发明人 秦贞山 巢玉
(74)专利代理 机构 北京众合诚成知识产权代理
有限公司 1 1246
专利代理师 戚星
(51)Int.Cl.
G01B 11/00(2006.01)
G01M 13/04(2019.01)G06T 7/73(2017.01)
G06T 7/00(2017.01)
G06T 5/00(2006.01)
审查员 颜彦
(54)发明名称
轴承底座的位置 变化的测量系统
(57)摘要
本发明涉及一种轴承底座的位置变化的测
量系统, 包括: 辊压机轴结构, 包括旋转轴体、 轴
套、 第一轴承底座、 第一轴承、 第二轴承底座、 第
二轴承和压盖; 位置鉴别器件, 用于将第一底座
子画面的中央位置的像素点作为第一像素点, 将
第二底座子画面的中央位置的像素点作为第二
像素点, 将轴套子画面的中央位置的像素点作为
第三像素点, 并基于三种像素点的相对位置确定
是否发出底 座倾斜检测请求。 本发 明的轴承底座
的位置变化的测量系统结构紧凑、 操作简便。 由
于在引入针对性结构的辊压机轴结构以提升稳
定性的同时, 引入图形化的分析机制对具有双轴
承底座的辊压机轴结构中的两个轴承底座的位
置细微变化进行鉴定, 从而增强了辊压机轴结构
的可靠性。
权利要求书2页 说明书8页 附图2页
CN 115143888 B
2022.11.18
CN 115143888 B
1.一种轴承底座的位置变化的测量系统, 其特 征在于, 所述系统包括:
辊压机轴结构, 包括旋转轴体、 轴套、 第一轴承底座、 第一轴承、 第二轴承底座、 第二轴
承和压盖, 所述旋转轴体的尾部设置在所述第二轴承内, 所述第一轴承底座和所述第二轴
承底座尺寸相同, 所述第二轴承底座用于容置所述第二轴承, 所述压盖设置在所述第二轴
承底座的尾部, 所述旋转轴体的顶部设置在所述第一轴承内, 所述第一轴承底座用于容置
所述第一轴承, 所述旋转轴体的顶部和尾部之间的中间部分被容置在所述轴套内, 所述第
一轴承和所述第二轴承都包括外圈、 内圈以及设置在所述外圈和所述内圈之间的滚珠阵
列, 所述第一轴承底 座和所述第二轴承底座左右对称式坐落在所述轴套的左右两侧且到所
述轴套的水平 距离相等;
顶部检测设备, 设置在所述辊压机轴结构的正上方以对所述辊压机轴结构进行画面检
测以获取并输出相应的实时俯视画面;
多重优化设备, 与所述顶部检测设备连接, 用于对接收到的实时俯视画面依次进行清
晰度提升动作、 边沿锐化动作以及椒盐噪声 去除动作, 以获取并输出相应的多重优化画面;
目标提取器件, 与所述多重优化设备连接, 用于基于轴承底座的铸造材料的灰度数值
范围提取所述多重优化画面中的第一轴承底座对应的第一底座子画面以及所述多重优化
画面中的第二轴承底 座对应的第二底座子画 面, 同时基于轴套的铸造材料的灰度数值范围
提取所述多重优化画面中的轴套对应的轴套子画面;
位置鉴别器件, 与所述目标提取器件连接, 用于将所述第一底座子画面的中央位置的
像素点作为第一像素点, 将所述第二底座子画面的中央位置的像素点作为第二像素点, 将
所述轴套子画面的中央位置的像素点作为第三像素点, 并基于第一像素点、 第二像素点以
及第三像素点分别在所述多重优化画面中的三处位置判断是否发出底座 倾斜检测请求;
其中, 在所述多重优化画面中获取所述第 一像素点到所述第 三像素点的距离以作为第
一距离, 在所述多重优化画 面中获取所述第二像素点到所述第三像素点的距离以作为第二
距离, 在所述第一距离和所述第二距离的差值大于设定差值阈值时, 发出底座倾斜检测请
求。
2.如权利要求1所述的轴承底座的位置变化的测量系统, 其特征在于, 所述系统还包
括:
转速测量设备, 与所述旋转轴体连接, 用于测量所述旋转轴体的当前转速, 并在所述旋
转轴体的当前转速小于等于设定转速限量时, 使能所述顶部检测设备;
其中, 所述转速测量设备通过近场通信链路与所述顶部检测设备连接, 还用于在所述
旋转轴体的当前转速大于所述设定转速限量时, 禁用所述顶部检测设备。
3.如权利要求2所述的轴承底座的位置变化的测量系统, 其特 征在于,
所述转速测量设备内置有第 一近场通信接口, 所述顶部检测设备内置有第 二近场通信
接口, 所述第一近场通信接口与所述第二近场通信接口之间建立双向的近场通信链路。
4.如权利要求1所述的轴承底座的位置变化的测量系统, 其特 征在于,
将所述第一底座子画面的中央位置的像素点作为第 一像素点, 将所述第 二底座子画面
的中央位置的像素点作为第二像素点, 将所述轴套子画 面的中央位置的像素点作为第三像
素点, 并基于第一像素点、 第二像素点以及第三像素点分别在所述多重优化画面中的三处
位置判断是否发出底 座倾斜检测请求还包括: 在所述第一距离和所述第二距离的差值小于权 利 要 求 书 1/2 页
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CN 115143888 B
2等于所述设定 差值阈值时, 发出底座稳定检测信号。
5.如权利要求1所述的轴承底座的位置变化的测量系统, 其特 征在于,
在所述多重优化画面中获取所述第一像素点到所述第三像素点的距离以作为第一距
离, 在所述多重优化画面中获取所述第二像素点到所述第三像素点的距离 以作为第二距
离, 在所述第一距离和所述第二距离的差值大于设定差值阈值时, 发出底座倾斜检测请求
包括: 所述第一距离和所述第二距离均用像素点数量进行表示。
6.如权利要求5所述的轴承底座的位置变化的测量系统, 其特 征在于,
所述第一距离和所述第 二距离均用像素点数量进行表示包括: 所述第 一距离为在所述
多重优化画面中所述第一像素点到所述第三像素点的最短路径上遍历的像素点总数;
其中, 所述第一距离和所述第二距离均用像素点数量进行表示还包括: 所述多重优化
画面中所述第一像素点到所述第三像素点的每一路径上的每一最小路径单位均为两个相
邻像素点的间距。
7.如权利要求6所述的轴承底座的位置变化的测量系统, 其特 征在于,
在所述多重优化画面中获取所述第一像素点到所述第三像素点的距离以作为第一距
离, 在所述多重优化画面中获取所述第二像素点到所述第三像素点的距离 以作为第二距
离, 在所述第一距离和所述第二距离的差值大于设定差值阈值时, 发出底座倾斜检测请求
还包括: 所述设定 差值阈值用像素点进行表示。
8.如权利要求1 ‑3任一所述的轴承底座的位置变化的测量系统, 其特 征在于,
基于轴承底座的铸造材料的灰度数值范围提取所述多重优化画面中的第一轴承底座
对应的第一底座子画面以及所述多重优化画面中的第二轴承底座对应的第二底座子画面
包括: 基于轴承底座的不锈钢铸造材料的灰度数值范围提取所述多重优化画 面中的第一轴
承底座对应的第一底座子画面以及所述多重优化画面中的第二轴承底座对应的第二底座
子画面;
其中, 基于轴 套的铸造材料的灰度 数值范围提取所述多重优化画面中的轴 套对应的轴
套子画面包括: 基于轴套的绝缘体铸造材料的灰度数值范围提取所述多重优化画面中的轴
套对应的轴套子画面。
9.如权利要求1 ‑3任一所述的轴承底座的位置变化的测量系统, 其特 征在于,
所述多重优化设备包括画面录入子设备、 清晰度提升子设备、 边沿锐化子设备、 噪声去
除子设备以及画 面输出子 设备, 所述画 面录入子设备、 所述清晰度提升子 设备、 所述边 沿锐
化子设备、 所述噪声 去除子设备以及所述画面输出子设备次序连接;
其中, 所述多重优化设备中, 所述清晰度提升子设备用于执行清晰度提升动作, 所述边
沿锐化子设备用于执 行边沿锐化动作, 所述噪声 去除子设备用于执 行椒盐噪声 去除动作。权 利 要 求 书 2/2 页
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专利 轴承底座的位置变化的测量系统
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