UDC 621.382 L 55 中华人民共和宝国家标准 GB/T 14032---92 半导体集成电路数字锁相环 测试方法的基本原理 General principles of measuring methods of digital phase-locked loop for semiconductor integrated circuits 国家标准全文公开系统专用，此文本仅供个人学习、研究之用 未经授权，禁止复制、发行、汇编、翻译或网络传播等，侵权必究。 全国标准信息公共服务平台：https：//stdl.samr.gov.cn 1992-12-18发布 1993-08-01实施 国家技术监督局发布 中华人民共和国国家标准 半导体集成电路数字锁相环 GB/T 14032-92 测试方法的基本原理 General principles of measuring methods of digital phase-locked loop for semiconductor integrated circuits 本标准规定了半导体集成电路数字锁相环（以下简称器件或数字锁相环)电参数测试方法的基本原 理。 数字锁相环与数字电路相同的静态和动态参数测试可参照GB3834《半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理》。 1总要求 1.1若无特殊说明，测试期间，环境或参考点温度偏离规定值的范围应符合器件详细规范的规定。 1.2测试期间，施于被测器件的电参量应符合器件详细规范的规定。 1.3测试期间，应避免外界干扰对测试精度的影响，测试设备引起的测试误差应符合器件详细规范的 规定。 1.4被测器件与测试系统连接或断开时，不应超过器件的使用极限条件。 1.5若有要求时，应按器件详细规范规定的顺序接通电源。 1.6＇测试期间，被测器件应连接器件详细规范规定的外围电路和补偿网络， 1.7若电参数值是由几步测试的结果经计算而确定时，这些测试的时间间隔应尽可能短。 1.8测试期间应避免因静电感应而引起器件失效。 2参数测试 2.1动态功耗Pa。 2.1.1目的 测试器件动态工作时的功率。 2.1.2测试原理图 Pa测试原理图见图1。 国家技术监督局1992-12-18批准 1993-08-01实施 1 GB/T 14032--92 电源 直 流 信 被测器件 号 源 频 率 波 定频网络 计 器 图 1 2.1.3测试条件 测试期间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定。 环境温度； b. 压控振荡器输入电压； c. 定频网络的电阻和电容； d. 压控振荡器输出频率。 2.1.4测试程序 2.1.4.1将被测器件接入测试系统中。 2.1.4.2接通电源。 2.1.4.3 调节直流信号源的输出电压，使压控振荡器输入电压Vi为电源电压V+的 2.1.4.4 调节定额网络中的电容，使压控振荡器输出频率为规范值。 2.1.4.5 在电源端读取电流I+的平均值。 2.1.4.6按式(1)计算Pa： Pa - I+: V- (1) 2.2压控振荡器最高工作频率fmax 2.2.1月的 测试压控振荡器输入电压为最大值时的输出频率。 2.2.2测试原理图 fmax测试原理图见图2。